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• 大容量垂直温度衝撃試験室

  Oct 10, 2014

  大容量垂直温度衝撃試験室温度衝撃試験室では、試験片を冷室と熱室の間で交互に移動させることにより、試験片に非常に速い温度変化を適用することができます。これにより、潜在的な欠陥を明らかにし、試験片の耐用年数を定義することもできます。Lab Companion TS-2 モデルの温度衝撃試験チャンバーは、主に重い負荷に使用されます。コンパクトな構造と小さな設置面積のため、生産ラインでの使用に特に推奨されます。Lab Companionは環境試験装置の開発を専門とする研究機関であり、成熟した環境試験研究方法と実験室を備えています。優秀な人材と業界で有名な専門家を集め、強力な研究開発チームが国内の環境試験技術の開発方向をリードしています。現在、同社は環境試験装置、信頼性試験装置、 高温および低温試験室、高温および低温湿度試験室、恒温恒湿試験室、急速温度変化試験室、冷温衝撃試験室、3 つの総合試験室、高温および低圧試験室、太陽放射試験室、工業用オーブン、冷温衝撃試験室、ウォークイン恒温恒湿試験室、環境ストレス スクリーニング試験室、ウォークイン恒温恒湿試験室、高温および低温衝撃試験室。ボックス、恒温恒湿試験機、恒温恒湿試験ボックス、日射試験ボックス、高温低温湿度試験室、温湿度制御室、紫外線加速老化試験機、紫外線加速耐候性試験機、ウォークイン試験室、ウォークイン環境試験室、ウォークイン高温低温試験室、温湿度制御試験室、紫外線耐候性試験室、紫外線老化試験機、高温低圧試験室、急速温度サイクル試験室、ウォークイン恒温恒湿試験室、ウォークイン高温低温湿度試験室、精密オーブン、プログラム可能な恒温恒湿試験室、プログラム可能な恒温湿度試験機、キセノンランプ老化試験室、高温低温交互湿度試験室、恒温湿度試験室、ウォークイン高温低温湿度試験室、高風速降雨試験室などの気候環境試験装置およびカスタマイズ製品は国内最前線にあり、国際的にも一流のレベルです。新規および既存のお客様からのお問い合わせをお待ちしております。皆様にご満足いただけるよう全力でサポートさせていただきます！

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• オートクレーブまたは圧力鍋試験（PCT）

  Aug 17, 2021

  オートクレーブまたは圧力鍋試験（PCT）オートクレーブ テスト、または圧力鍋テスト (PCT)、または圧力ポット テスト (PPOT) は、製品が厳しい温度および湿度条件に耐える能力を評価するために実行される信頼性テストです。 これは主に、ダイの表面の金属化領域を含む製品の金属部分の腐食を加速するために使用されます。また、サンプルをオートクレーブチャンバー内で生成される高蒸気圧にさらします。図 1 は、オートクレーブチャンバーの例を示しています。図1. Trio Techのオートクレーブチャンバーの例オートクレーブ試験は、サンプルを 121 度 C、100% RH、2 気圧で 168 時間浸漬するものです。48 時間および 96 時間の中間読み取りポイントも使用できます。 表面実装サンプルは、オートクレーブ試験の前に事前調整されます。www.hast.cn。事前調整は、顧客のボード実装プロセスをシミュレートします。通常、サンプルのパッケージ内の湿気を除去するためのベーキング、制御された量の湿気をパッケージ内に送り込むためのソーク、および IR または蒸気リフローの 3 サイクルで構成されます。 サンプルはプレコンディショニング後にテストされ、その失敗はオートクレーブ失敗ではなくプレコンディショニング失敗とみなされます。プレコンディショニング失敗は、サンプルがボード取り付けプロセスに耐えるほど頑丈ではないことを意味するため、真剣に受け止める必要があります。図2. オートクレーブチャンバーの別の例オートクレーブ試験中の極度の湿気状態のため、試験後に湿気に関連した漏電障害が発生する可能性があります。事前に定義されていない限り、このような障害は有効な PCT 障害とは見なされません。腐食から生じるような恒久的な障害のみが有効な PCT 障害とみなされます。 信頼性テスト: オートクレーブ テストまたは PCT、温度サイクル、熱衝撃、THB; HAST; HTOL; LTOL; HTS; はんだ耐熱試験 (SHRT); その他の信頼性テスト参照: 信頼性工学、信頼性モデリング認定プロセス、故障解析、パッケージ故障、ダイ故障

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• 偏光子の試験条件

  Oct 09, 2024

  偏光子の試験条件偏光板は液晶ディスプレイの基本部品の一つで、一定方向の光のみを通過させる光板です。液晶板を作る工程では、必ず上下に一枚ずつ使用し、ずらした方向に配置します。主に光源が電界と無電界のときに位相差と明暗の状態を作り出し、字幕や図柄を表示するために使用されます。関連するテスト条件:ヨウ素の分子構造は高温多湿の条件下では破壊されやすいため、ヨウ素染色技術で製造された偏光板の耐久性は低く、一般的に以下の条件しか満たせません。高温：80℃×500HR高温多湿：作業条件60℃×90%RH×500HR以下しかし、LCD製品の使用拡大に伴い、偏光製品の湿潤・高温作業条件はますます厳しくなり、100℃、90％RHの条件で動作する偏光板製品が求められており、現在最も高い条件は次のとおりです。高温：105℃×500HR湿度と熱：90℃×95%RH×500HR以下の試験要件偏光板の耐久性試験には、高温、湿熱、低温、冷熱衝撃の4つの試験方法があり、そのうち最も重要な試験は湿熱試験です。高温試験とは、一定の焼成温度での偏光板の高温作業条件を指します。現在、偏光板の技術等級に応じて、次のように分類されます。ユニバーサルタイプ：動作温度は70℃×500HRです。中耐久タイプ：使用温度は80℃×500HRです。高耐久タイプ：動作温度は3グレードとも90℃×500Hとなります。偏光フィルムの基本材料であるPVAフィルムやヨウ素、ヨウ化物は加水分解されやすい材料であるだけでなく、偏光板に使用されている粘着剤も高温高湿の条件下では劣化しやすいため、偏光板の環境試験で最も重要なのは高温と湿熱です。  

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• 高温・低温試験室および高温・低温交互試験室の日常メンテナンスのヒント

  Oct 09, 2024

  高温・低温試験室および高温・低温交互試験室の日常メンテナンスのヒント1. 高温および低温試験室 一般的に比較的高いため、比較的穏やかな温度環境に置くことをお勧めします。当社の経験温度値は8℃〜23℃です。この条件を満たしていない実験室では、適切なエアコンまたは冷却塔を設置する必要があります。2. 専任者による専門的な管理を遵守する必要があります。条件付きユニットは、Hongzhan Instrumentのメンテナンスと修理におけるより専門的な経験と能力を獲得するために、定期的に専任者をサプライヤーの工場に派遣してトレーニングと学習を行う必要があります。3. 3 か月ごとにコンデンサーを定期的に清掃します。空冷式冷却を使用するコンプレッサーの場合、コンデンサー ファンを定期的に検査し、コンデンサーを清掃してほこりを取り除き、良好な換気と熱伝達性能を確保する必要があります。水冷式冷却を使用するコンプレッサーの場合、入口の水圧と温度を確保するだけでなく、対応する流量も確保する必要があります。コンデンサー内部の定期的な清掃とスケール除去も、継続的な熱伝達性能を得るために必要です。4. 蒸発器を定期的に清掃する: テストサンプルの清浄度レベルが異なるため、強制空気循環下では、ほこりなどの小さな粒子が蒸発器に大量に蓄積されるため、定期的に清掃する必要があります。5. 循環空気ブレードと凝縮器ファンの清掃とバランス調整: 蒸発器の清掃と同様に、試験室の作業環境が異なるため、循環空気ブレードと凝縮器ファンにほこりなどの小さな粒子が多数蓄積する可能性があるため、定期的に清掃する必要があります。6. 水路と加湿器の清掃：水路が滑らかでなく、加湿器にスケールが付着していると、加湿器が乾燥して焦げやすくなり、加湿器が損傷する可能性があります。そのため、定期的に水路と加湿器を清掃する必要があります。7. 各実験の終了後、温度を周囲温度に近い値に設定し、約 30 分間作業した後、電源を切り、作業場の内壁を清掃します。機器を移動する必要がある場合は、機器への不必要な損傷や損害を避けるために、Hongzhan 社の技術者の指導の下で移動することをお勧めします。製品を長期間使用しない場合は、半月ごとに定期的に電源を入れ、電源オン時間は 1 時間未満にならないようにしてください。10. メンテナンスの原則:高温・低温試験室は主に電気、冷凍、機械システムで構成されているため、設備に問題が発生した場合には、設備システム全体の総合的な検査と分析を実施する必要があります。一般的に言えば、分析と判断のプロセスは「外部」から始まり、「内部」へと進みます。つまり、外部要因を排除した後、故障現象に基づいて設備を体系的に分解し、システムを総合的に分析して判断します。あるいは、逆推論法を使用して故障の原因を見つけることもできます。まず、電気配線図に従って電気システムに問題があるかどうかを確認し、最後に冷凍システムに問題があるかどうかを確認します。故障の原因を理解する前に、不要なトラブルを避けるために、盲目的に部品を分解したり交換したりすることはお勧めできません。

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• 重慶大学と懐化電力局が共同で建設した中国初の自然環境着氷試験ステーションが雪峰山に設置されました！

  Jan 09, 2010

  重慶大学と懐化電力局が共同で建設した中国初の自然環境着氷試験ステーションが雪峰山に設置されました！1月16日、重慶大学と湖南省懐化電力設計研究所が共催する「雪峰山天然氷冠試験ステーション」絶縁体氷冠試験技術交流セミナーが懐化市で開催されました。全国の有名大学の送配電線と絶縁技術の専門家と、日本のNGK社の電気専門家が一堂に会し、湖南省懐化市にある世界唯一、中国初の天然氷冠試験ステーションの竣工を祝い、今後の研究事項について議論しました。会議では、重慶大学博士課程の指導教授である江興良教授がまず、実験基地の基本設計と建設における懐化電力局と電力システム各部門の強力な支持と協力に感謝の意を表した。出席した専門家は、張志金准教授の雪峰山天然氷床試験ステーションの建設と2009年の氷床試験に関する報告を聞き、2009年を通じて試験基地での氷の観察と研究結果を共有し、既存の問題について深く議論と研究を行った。会議後、専門家は「雪峰山天然氷床試験ステーション」に現地調査に行き、代表者は試験ステーションの敷地選定と建設に対する賛意を表明した。江興良教授は、2008年の氷災以降、深刻な氷結による多数の断線、鉄塔の倒壊、氷閃光事故を防ぎ、電力網の安全で安定した運用を維持するために、中国科学技術部は、国家重点基礎研究開発計画（973計画）の重要な研究課題の一つとして、送電網の氷結および保護技術を掲げていると紹介した。江興良教授の研究チームは、中国国家電網公司の「送電線の氷結、除氷、融解メカニズム」などのプロジェクトの支援を受けて、中国の典型的な氷結状況を全面的に調査し、貴州省六盤水、陝西省秦嶺山脈、四川省荊門、江西省廬山などで氷結現象と微気象を分析・比較した。氷の代表性、持続期間、輸送条件に基づいて、湖南省雪峰山に「天然氷試験基地」を設立することを決定しました。雪峰山平山堂の自然条件と懐華設計研究所の技術力は、天然氷試験基地の建設の要件を満たしていると考えられ、最終的に敷地の選定と協力パートナーが決定されました。2009年、江興良教授、張志金准教授、胡建林博士ら研究グループの主要メンバーは、重慶大学高圧絶縁工学科の10数名の大学院生を率いて、厳しい自然条件下での仕事と生活のさまざまな困難を克服し、懐化局設計研究所と協力して実験研究を行いながら自然実験基地を構築しました。実験の初年度は、高電圧、超高圧、超高圧送電線でよく使用される6つの典型的な仕様の導体の着氷、解凍、除氷のプロセスを研究しました。さまざまな種類の絶縁体の着氷プロセスを観察し、比較しました。機械的コーティングや疎水性コーティングなど、導体の着氷を防ぐための複数の技術的対策、絶縁体の着氷を防ぐためのコーティング、絶縁体の着氷配置の違いなどを実験的に調査しました。導体氷結のねじれ過程とメカニズムを分析し、導体氷結後の張力変化と氷風荷重変化を分析した。さらに、自然環境での交流および直流氷結試験を実施し、世界レベルの電力網氷結問題を克服するための重要な実験データを大量に蓄積し、多くの効果的な研究と探究を行った。日本ガイシ株式会社電力事業部技師長の中島俊之氏は、雪峰山天然氷覆い試験ステーションの視察中に記者団のインタビューに応じ、米国で10年間にわたり送電網氷覆いの研究に携わってきたと述べた。国際専門家らは実験室の人工シミュレーション条件下で長期にわたり送電網氷覆いの研究を行ってきたが、人工シミュレーション環境における氷覆い形態と自然環境の実情との間には大きな誤差があると全員が一致して考えている。雪峰山に建設された初の天然氷覆い試験ステーションは、中国および国際的に送電線の氷覆いと融解メカニズム、送電網の防氷能力の研究プロセスを大きく推進することは間違いない。氏は、中国の同僚らが自然環境における送電線の氷覆いの基礎を早く得ることを望んでいる。データはこの分野における国際研究のギャップを埋め、世界レベルの送電網氷覆いメカニズムと防氷技術の課題をできるだけ早く克服するだろう。懐化電力局設計研究所の張継武所長は、懐化電力局党委員会の梁立清書記の強力な支援を受けて、重慶大学と協力して雪峰山天然氷床試験ステーションを建設したと述べた。一方では、電力網の耐氷性向上の研究に自ら貢献し、企業の社会的責任感を反映することができる。他方では、協力と交流を通じて、自社の技術力と企業評判を高め、外部競争力を高め、ウィンウィンの状況を実現することもできる。これは、企業と高等教育機関の「産学連携」協力のモデルである。（舒大松、張徳明）情報元：湖南電力公司Lab Companionは環境試験装置の開発を専門とする研究機関であり、成熟した環境試験研究方法と実験室を備えており、優秀な人材と業界で有名な専門家のグループを集め、強力な研究開発チームが国内の環境試験技術の発展方向をリードしています。現在、当社は環境試験設備、信頼性試験設備、高温および低温試験室、高温および低温湿度試験室、恒温恒湿試験室、急速温度変化試験室、冷熱衝撃試験室、3つの総合試験室、高温および低温および低圧試験室、太陽放射試験室、工業用オーブン、冷熱衝撃試験室、ウォークイン恒温恒湿試験室、環境ストレススクリーニング試験室、ウォークイン恒温恒湿試験室、高温および低温衝撃試験室、恒温恒湿試験機、恒温恒湿試験室、太陽放射試験室、高温および低温湿度試験室、温湿度制御室、紫外線加速老化試験機、紫外線加速耐候性試験機、ウォークイン試験室、ウォークイン環境試験室、ウォークイン高温および低温実験室、温湿度制御試験室、紫外線耐候性試験室、紫外線老化試験機、気候環境試験設備およびカスタマイズされた製品などにおいて、独立した知的財産権を有しています。 高温、低温 低圧試験室、 急速温度サイクル試験室、ウォークイン恒温恒湿試験室、ウォークイン高温・低温恒湿試験室、精密オーブン、プログラム可能な恒温恒湿試験室、プログラム可能な恒温恒湿試験機、キセノンランプ老化試験室、高温低温交互湿度試験室、恒温恒湿試験室、ウォークイン高温低温湿度試験室、高風速降雨試験室は、国内外の基準の最前線にあります。新規および既存のお客様からのお問い合わせをお待ちしております。私たちはあなたにサービスを提供することに専念します！

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• 通信用発光ダイオードの信頼性試験

  Oct 09, 2024

  通信用発光ダイオードの信頼性試験通信用発光ダイオードの故障判定:固定電流を供給して光出力を比較し、誤差が10%を超える場合は故障と判定します。機械的安定性テスト:衝撃試験: 5回/軸、1500G、0.5ms振動試験：20G、20～2000Hz、4分/サイクル、4サイクル/軸液体熱衝撃試験：100℃（15秒）←→0℃（5秒）/5サイクルはんだ耐熱性：260℃/10秒/1回はんだ接着：250℃/5秒耐久性テスト:加速劣化試験：85℃/電力（最大定格電力）/5000時間、10000時間高温保管：最大定格保管温度/2000時間低温保管試験：最大定格保管温度/2000時間温度サイクル試験：-40℃（30分）←85℃（30分）、RAMP：10/分、500サイクル耐湿性試験：40℃/95%/56日、85℃/85%/2000時間、密封時間通信ダイオード素子スクリーニングテスト：温度スクリーニング試験：85℃/電力（最大定格電力）/96時間スクリーニング不良判定：光出力電力を固定電流と比較し、誤差が10％より大きい場合は不良と判定通信ダイオードモジュールスクリーニングテスト：ステップ1：温度サイクルスクリーニング：-40℃（30分）←→85℃（30分）、RAMP：10/分、20サイクル、電源なしステップ2：温度スクリーニングテスト：85℃/電力（最大定格電力）/96時間   

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• 道路LED文字信頼性テスト

  Oct 09, 2024

  道路LED文字信頼性テスト耐環境性試験：振動試験、輸送パッケージ落下試験、温度サイクル試験、温湿度試験、衝撃試験、防水試験耐久性テスト:高温・低温保存試験、連続スイッチ動作試験、連続動作試験LEDディスプレイ信頼性試験条件終了:振動テスト: 3軸（XYZ）振動、各10分、10〜35〜10Hz正弦波、300〜1200回/分、1サイクル3分、振動Fu 2mm振動締め付け試験： 振動+温度（-10〜60℃）+電圧+負荷輸送梱包の落下試験: 滴下材料スラリー（少なくとも12mmの厚さ）、高さは使用目的によって異なります温度サイクル:a. ブートなしテスト：60℃/6時間←30分昇温・冷却→-10℃/6時間、2サイクルb. ブートテスト: 60℃/4時間 ← 上昇および冷却 30分 →0℃/6時間、2サイクル、梱包および負荷なしで電源供給温度と湿度のテスト:パワーテストなし: 60℃/95%RH/48時間ブートテスト: 60℃/95%RH/24時間/梱包電源無負荷衝撃試験: 衝突距離3m、傾斜15度、6面防水テスト：高さ30cm、10リットル/分噴霧角度60度、噴霧位置：前方および後方上方、噴霧範囲1平方メートル、噴霧時間1分湿度テスト: 40℃/90%RH/8時間←→25℃/65%RH/16時間、10サイクル)高温・低温保存試験: 60℃/95%RH/72時間 → 10℃/72時間連続スイッチ動作テスト:1秒以内に切り替えを完了し、少なくとも3秒間シャットダウンする、2000回、45℃/80%RH継続動作テスト: 40℃/85%RH/72時間/電源オン    

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• ACソーラーモジュールとマイクロインバータ 1

  Oct 09, 2024

  ACソーラーモジュールとマイクロインバータ 1太陽電池パネルの全体的な出力電力は、主にモジュールの損傷（雹、風圧、風の振動、雪圧、落雷）、局所的な影、汚れ、傾斜角度、向き、さまざまな程度の老化、小さな亀裂などにより大幅に低下します。これらの問題により、システム構成のずれが生じ、出力効率の欠陥が低下し、従来の集中型インバータでは克服するのが困難です。太陽光発電コスト比：モジュール（40〜50％）、建設（20〜30％）、インバータ（

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• ACソーラーモジュールとマイクロインバータ2

  Oct 08, 2024

  ACソーラーモジュールとマイクロインバータ 2ACモジュールテスト仕様:ETL認証: UL 1741、CSA規格22.2、CSA規格22.2 No. 107.1-1、IEEE 1547、IEEE 929PVモジュール: UL1703ニュースレター: 47CFR、パート 15、クラス B電圧サージ定格: IEEE 62.41 クラス B国家電気規格: NEC 1999-2008アーク保護装置: IEEE 1547電磁波: BS EN 55022、CISPR 22B に基づく FCC クラス B、EMC 89/336/EEG、EN 50081-1、EN 61000-3-2、EN 50082-2、EN 60950マイクロインバータ（マイクロインバータ）：UL1741クラスA一般的なコンポーネントの故障率: MIL HB-217Fその他の仕様:IEC 503、IEC 62380 IEEE1547、IEEE929、IEEE-P929、IEEE SCC21、ANSI/NFPA-70 NEC690.2、NEC690.5、NEC690.6、NEC690.10、NEC690.11、NEC690.14、NEC690.17、 NEC690.18、NEC690.64ACソーラーモジュールの主な仕様：動作温度範囲: -20℃ ~ 46℃、-40℃ ~ 60℃、-40℃ ~ 65℃、-40℃ ~ 85℃、-20℃ ~ 90℃出力電圧: 120/240V、117V、120/208V出力周波数: 60HzAC モジュールの利点:1. 各インバータ電源モジュールの発電量を増やし、最大電力を追跡するようにします。単一コンポーネントの最大電力点が追跡されるため、太陽光発電システムの発電量が大幅に向上し、25% 増加できます。2. システムの不一致を回避するために、すべてのバランスが取れるまで各列の太陽光パネルの電圧と電流を調整します。3. 各モジュールには監視機能があり、システムのメンテナンスコストを削減し、動作の安定性と信頼性を高めます。4. 構成は柔軟で、ユーザーの財源に応じて太陽電池のサイズを家庭用市場に設置できます。5. 高電圧がなく、より安全に使用でき、設置が簡単で、より速く、メンテナンスと設置コストが低く、設置サービスプロバイダーへの依存が軽減されるため、ユーザー自身が太陽光発電システムを設置できます。6. コストは集中型インバーターと同等かそれ以下です。7. 簡単な設置（設置時間が半分に短縮されます）。8. 調達および設置コストを削減します。9. 太陽光発電の全体的なコストを削減します。10. 特別な配線や設置プログラムは必要ありません。11. 単一の AC モジュールの障害は、他のモジュールやシステムには影響しません。12. モジュールに異常がある場合、電源スイッチを自動的に切断することができます。13. メンテナンスには簡単な中断手順のみが必要です。14. どの方向にも取り付けることができ、システム内の他のモジュールに影響を与えません。15. 下に置くだけで設置スペース全体を埋めることができます。16. DC ラインとケーブル間のブリッジを減らします。17. DCコネクタ（DCコネクタ）を減らします。18. DC 接地故障検出を減らし、保護装置を設定します。19. DC接続ボックスを減らします。20. ソーラーモジュールのバイパスダイオードを減らします。21. 大型インバーターを購入、設置、保守する必要はありません。22. 電池を買う必要はありません。23. 各モジュールには、UL1741 仕様の要件を満たすアーク防止装置が搭載されています。24. モジュールは、別の通信回線を設定せずに、AC 電源出力線を介して直接通信します。25. 部品が40%削減されました。

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• ACソーラーモジュールとマイクロインバータ3

  Oct 08, 2024

  ACソーラーモジュールとマイクロインバータ3ACモジュールのテスト方法:1.出力性能試験：既存のモジュール試験装置、非インバータモジュール関連の試験用2. 電気ストレステスト：さまざまな条件下で温度サイクルテストを実行し、動作温度とスタンバイ温度条件下でのインバータの特性を評価します。3. 機械的ストレステスト：接着力が弱いマイクロインバータとPCBボードに溶接されたコンデンサを見つける4. 全体的なテストにはソーラーシミュレータを使用する：サイズが大きく均一性に優れた定常パルスソーラーシミュレータが必要である。5.屋外テスト：屋外環境でのモジュール出力IV曲線とインバータ効率変換曲線を記録する6.個別テスト：モジュールの各コンポーネントを部屋で個別にテストし、総合的なメリットを次の式で計算します。7. 電磁干渉テスト：モジュールにはインバーターコンポーネントが含まれているため、モジュールが太陽光シミュレーターの下で動作しているときに EMC および EMI への影響を評価する必要があります。AC モジュールの一般的な故障原因:1. 抵抗値が間違っている2.ダイオードが反転している3. インバータの故障原因：電解コンデンサの故障、湿気、ほこりACモジュールのテスト条件:HASTテスト: 110℃/85%RH/206時間(サンディア国立研究所)高温試験（UL1741）：50℃、60℃温度サイクル：-40℃←→90℃/200サイクル湿潤凍結: 85℃/85%RH←→-40℃/10サイクル、110サイクル(Enphase-ALTテスト)耐湿熱試験：85℃/85%RH/1000時間多重環境圧力試験（MEOST）：-50℃～120℃、30G～50G振動防水性: NEMA 6/24時間雷試験: 最大6000Vのサージ電圧に耐えるその他（UL1703参照）：水噴霧試験、引張強度試験、耐アーク試験太陽光関連モジュールのMTBF:従来型インバータ10～15年、マイクロインバータ331年、PVモジュール600年、マイクロインバータ600年[将来]マイクロインバータの紹介：使用方法：マイクロインバータ（microverter）をソーラーモジュールに適用し、各DCソーラーモジュールに装備することで、アーク発生の可能性を減らすことができます。マイクロインバータは、AC電源出力線を介して直接ネットワーク通信を行うことができます。ソケットに電力線イーサネットブリッジ（Powerline Ethernet Bridge）をインストールするだけで、別の通信回線を設定する必要はありません。ユーザーは、コンピューターのWebページ、iPhone、BlackBerry、タブレットコンピューターなどを介して、各モジュールの動作状態（電力出力、モジュール温度、障害メッセージ、モジュール識別コード）を直接監視できます。異常がある場合は、すぐに修理または交換して、太陽光発電システム全体をスムーズに動作させることができます。マイクロインバータはモジュールの後ろに設置されているため、紫外線によるマイクロインバータの老化の影響も低くなります。マイクロインバーターの仕様:UL 1741 CSA 22.2、CSA 22.2、No. 107.1-1 IEEE 1547 IEEE 929 FCC 47CFR、パート 15、クラス B 米国電気工事規程 (NEC 1999-2008) に準拠 EIA-IS-749 (主要なアプリケーション寿命テスト、コンデンサ使用の仕様を修正)マイクロインバータテスト:1. マイクロインバータの信頼性テスト：マイクロインバータの重量+65ポンド×4倍2. マイクロインバータの防水テスト：NEMA 6[1メートル水中で24時間連続動作]3. IEC61215試験方法による湿潤凍結：85℃/85%RH←→-45℃/110日間4. マイクロインバータの加速寿命試験[合計110日間、定格電力での動的試験により、マイクロインバータが20年以上持続できることが保証されました]：ステップ1：湿式凍結：85℃/85%RH←→-45℃/10日間ステップ2：温度サイクル：-45℃←→85℃/50日ステップ3：湿熱：85℃/85%RH/50日間

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• IEC 61646 薄膜太陽光発電モジュールの試験規格

  Oct 07, 2024

  IEC 61646 薄膜太陽光発電モジュールの試験規格診断測定、電気測定、照射試験、環境試験、機械試験の5種類の試験および検査モードを通じて、薄膜太陽光発電の設計確認および形状承認要件を確認し、モジュールが仕様で要求される一般的な気候環境で長期間動作できることを確認します。IEC 61646-10.1 目視検査手順目的: モジュールの視覚的な欠陥を確認します。IEC 61646-10.2標準試験条件におけるSTCでのパフォーマンス目的：自然光またはAクラスシミュレータを使用して、標準テスト条件（バッテリー温度：25±2℃、放射照度：1000wm^-2、IEC891に準拠した標準太陽スペクトル放射分布）で、負荷変化によるモジュールの電気的性能をテストします。IEC 61646-10.3 絶縁試験目的: 電流を流す部品とモジュールのフレームの間に良好な絶縁があるかどうかをテストするIEC 61646-10.4 温度係数の測定目的: モジュール テストで電流温度係数と電圧温度係数をテストします。測定された温度係数は、テストで使用される照射に対してのみ有効です。線形モジュールの場合、この照射の ±30% 以内で有効です。この手順は、代表的なバッチ内の個々のセルからこれらの係数を測定することを規定する IEC891 に追加されるものです。薄膜太陽電池モジュールの温度係数は、関連するモジュールの熱処理プロセスによって異なります。温度係数が関係する場合は、熱テストの条件とプロセスの照射結果を示す必要があります。IEC 61646-10.5 公称動作セル温度（NOCT）の測定目的: モジュールのNOCTをテストするNOCTにおけるIEC 61646-10.6のパフォーマンス目的: 標準太陽スペクトル放射照度分布条件下での公称動作バッテリー温度と放射照度が 800Wm^-2 の場合、モジュールの電気的性能は負荷に応じて変化します。IEC 61646-10.7 低照度時の性能目的: 自然光またはクラス A シミュレーターで 25℃、200Wm^-2 (適切な参照セルで測定) の負荷がかかった状態のモジュールの電気的性能を決定します。IEC 61646-10.8 屋外暴露試験目的: モジュールの屋外環境への暴露に対する耐性を評価し、実験やテストでは検出できなかった劣化の影響を明らかにすること。IEC 61646-10.9 ホットスポットテスト目的: 包装材料の劣化、バッテリーのひび割れ、内部接続の故障、局所的な陰影やエッジの汚れなど、欠陥の原因となる熱の影響に対するモジュールの耐性を判断します。IEC 61646-10.10 UV試験（UV試験）目的: モジュールが紫外線 (UV) 放射に耐える能力を確認するために、新しい UV テストが IEC1345 に記載されており、必要に応じて、このテストを実行する前にモジュールを光にさらす必要があります。IEC61646-10.11 熱サイクル試験（熱サイクリング）目的: モジュールが繰り返し温度変化による熱不均一性、疲労、その他のストレスに耐える能力を確認します。モジュールは、このテストを受ける前にアニールする必要があります。[Pre-IV テスト] はアニール後のテストを指します。最終 IV テストの前にモジュールを光にさらさないように注意してください。テスト要件:a. テストプロセス全体を通じて各モジュール内の電気的導通を監視するための機器b. 各モジュールの凹んだ端の1つとフレームまたはサポートフレームの間の絶縁の完全性を監視するc. テスト全体を通してモジュールの温度を記録し、発生する可能性のある開回路または接地障害を監視します（テスト中に断続的な開回路または接地障害が発生しないようにします）。d.絶縁抵抗は初期測定と同じ要件を満たす必要があります。IEC 61646-10.12 湿度凍結サイクル試験目的: 高温多湿下でのその後の氷点下温度の影響に対するモジュールの耐性をテストします。これは熱衝撃テストではありません。テストを受ける前に、モジュールをアニールし、熱サイクルテストを実施する必要があります。[[Pre-IV テスト] はテスト後の熱サイクルを指し、最終 IV テストの前にモジュールを光にさらさないように注意してください。テスト要件:a. テストプロセス全体を通じて各モジュール内の電気的導通を監視するための機器b. 各モジュールの凹んだ端の1つとフレームまたはサポートフレームの間の絶縁の完全性を監視するc. テスト全体を通してモジュールの温度を記録し、発生する可能性のある開回路または接地障害を監視します（テスト中に断続的な開回路または接地障害が発生しないようにします）。d. 絶縁抵抗は初期測定と同じ要件を満たす必要があります。IEC 61646-10.13 耐湿熱試験（耐湿熱）目的: モジュールが長期間の水分浸入に耐えられるかどうかをテストする試験要件：絶縁抵抗は初期測定と同じ要件を満たす必要があるIEC 61646-10.14 終端の堅牢性目的: リード端とモジュール本体へのリード端の接続が、通常の設置および操作中に発生する力に耐えられるかどうかを判断すること。IEC 61646-10.15 ねじり試験目的: 不完全な構造にモジュールを設置することで発生する可能性のある問題を検出するIEC 61646-10.16 機械的負荷試験目的: このテストの目的は、モジュールが風、雪、氷、または静的荷重に耐える能力を判断することです。IEC 61646-10.17 雹試験目的: 雹に対するモジュールの耐衝撃性を検証するIEC 61646-10.18 光浸漬試験目的:太陽光照射をシミュレートして薄膜モジュールの電気特性を安定化するIEC 61646-10.19 アニーリング試験（アニーリング）目的: フィルム モジュールは検証テストの前にアニールされます。アニールしないと、その後のテスト手順中の加熱によって、他の原因による減衰が隠れてしまう可能性があります。IEC 61646-10.20 湿潤漏れ電流試験目的: 湿気のある動作条件下でのモジュールの絶縁性を評価し、雨、霧、露、または雪解けによる水分がモジュール回路の通電部分に侵入して腐食、接地障害、または安全上の危険を引き起こすことがないことを確認します。

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• IEEE1513 温度サイクル試験、湿度凍結試験および温湿度試験 1

  Oct 07, 2024

  IEEE1513 温度サイクル試験、湿度凍結試験および温湿度試験 1集光型太陽電池のセル、レシーバー、モジュールの環境信頼性試験要件のうち、温度サイクル試験、湿度凍結試験、温湿度試験にはそれぞれ独自の試験方法と試験条件があり、試験後の品質確認にも違いがあります。そのため、IEEE1513では、温度サイクル試験、湿度凍結試験、温湿度試験の3つの試験を仕様に盛り込み、その違いと試験方法を整理して皆様の参考としています。参照元: IEEE Std 1513-2001IEEE1513-5.7 熱サイクルテスト IEEE1513-5.7 熱サイクルテスト目的: 部品と接合材料、特にはんだ接合部とパッケージの品質間の熱膨張差によって引き起こされる故障に受信側が適切に耐えられるかどうかを判断する。背景: 集光型太陽電池の温度サイクル試験により、銅製ヒートシンクの溶接疲労が明らかになり、セル内の亀裂の成長を検出するには完全な超音波透過が必要である (SAND92-0958 [B5])。亀裂の伝播は、温度サイクル数、初期の完全なはんだ接合部、はんだ接合部の種類、バッテリーとラジエーター間の熱膨張係数と温度サイクルパラメータの関数であり、熱サイクルテスト後にレシーバーのパッケージ構造と絶縁材の品質をチェックします。プログラムには2つのテストプランがあり、次のようにテストされます。プログラムAとプログラムB手順A: 熱膨張差による熱応力下での受信機抵抗の試験手順B: 湿度凍結試験前の温度サイクル前処理の前に、受入材料の初期欠陥は実際の湿潤凍結によって引き起こされることを強調します。さまざまな集光型太陽エネルギー設計に適応するために、プログラム A とプログラム B の温度サイクル テストを確認できます。これらは表 1 と表 2 にリストされています。1. これらの受信機は、銅製のラジエーターに直接接続された太陽電池で設計されており、必要な条件は最初の行の表に記載されています。2. これにより、開発プロセス中に発生する欠陥につながる可能性のある潜在的な故障メカニズムを確実に検出できます。これらの設計では、さまざまな方法を採用しており、表に示すように、バッテリーのラジエーターを剥離するための代替条件を使用できます。表3は、受信部が代替の前にプログラムBの温度サイクルを実行することを示しています。プログラムBは主に受信側で他の材料をテストするため、すべての設計に代替案が提供される。表1 - 受信機の温度サイクル手順テストプログラムA - 熱サイクルオプション最高気温総サイクル数アプリケーション電流必要な設計TCR-A110℃250Noバッテリーは銅製のラジエーターに直接溶接されているTCR-B90℃500Noその他の設計記録TCR-C90℃250I(適用) = Iscその他の設計記録表2 - 受信機の温度サイクル手順テスト手順B - 湿潤凍結試験前の温度サイクルオプション最高気温総サイクル数アプリケーション電流必要な設計HFR-A 110℃100Noすべての設計の文書化 HFR-B 90℃200Noすべての設計の文書化 HFR-C 90℃100I(適用) = Iscすべての設計の文書化 手順：受信端は、-40℃から最高温度までの温度サイクルにさらされます（表1および表2の試験手順に従う）。サイクル試験は、1つまたは2つの箱に入れることができます。 ガス温度衝撃試験室液体ショックサイクルは使用しないでください。滞留時間は少なくとも 10 分、高温と低温は ±5 °C の要件内にする必要があります。サイクル頻度は 1 日 24 サイクルを超えてはならず、1 日 4 サイクル以上である必要があります。推奨頻度は 1 日 18 回です。2 つのサンプルに必要な熱サイクル数と最高温度については、表 3 (図 1 の手順 B) を参照してください。その後、目視検査と電気特性テストが実行されます (5.1 および 5.2 を参照)。これらのサンプルは、5.8 に従って湿潤凍結テストを受け、より大きなレシーバーについては 4.1.1 を参照してください (この手順は図 2 に示されています)。背景：温度サイクル試験の目的は、集光型太陽光発電ハードウェアの故障を検出する前に、短期的な故障メカニズムで現れる試験を加速することです。そのため、試験にはモジュール範囲を超える広い温度差が見られる可能性が含まれます。温度サイクルの上限は 60 °C で、これは多くのモジュールアクリルレンズの軟化温度に基づいています。他の設計の場合、モジュールの温度。温度サイクルの上限は 90 °C です (表 3 を参照)。表3-モジュール温度サイクルの試験条件一覧手順B 湿潤凍結試験前の温度サイクル前処理オプション最高気温総サイクル数アプリケーション電流必要な設計TCM-A 90℃50Noすべての設計の文書化 TEM-B 60℃200Noプラスチックレンズモジュールの設計が必要になる場合があります  

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